本装置は測定対象表面に光を照射し、膜表面からの反射光と膜を透過後ガラス表面から返ってくる反射光の光路差による位相のズレから発生する干渉色をCCDカラーカメラでとらえ、独自の膜ムラアルゴリズムでの画像解析により表面コーティングの膜厚を膜ムラ分布として瞬時に計測表示できる非接触式膜厚ムラ計測装置です。(薄膜相対値計)円弧状、タワミのあるサンプルが測定できます。
測定部光源部
外観は予告なく変更することがございます。
膜厚ムラ計測装置はすべて特注製品でお客様のご要望に合わせ、ムラ計測装置を開発して納入いたします。
ITO膜
膜パターン形成ムラ
PI膜
薄いガラスによるタワミがあっても測定できます。